HD-KFMTM
除了标准的KFM模式外,Nano-Observer还能提供一种高清KFM模式,极大的提高了分
辨率,并提高了表面电位的测量灵敏度
标准的KFM模式
较长的距离用抬高模式=较低的灵敏度 抬起高度 较大的特征用抬高模式 = 较低的分辨率
HD-KFMTM 模式
典型的抬起高度:10~50 nm
在传统的KFM中,电势力要弱100倍
典型的抬起距离:0.1 nm~0.3 nm
电势力≈1/距离^2
HD-KFMTM
应用
石墨烯在 SiC基底表面电位信号,HD-KFMTM 模式, 扫描范围 7 μm,a)单层石墨烯, b)多层石墨烯