Your Research Atomic Force Microscope
Nano-Observer使用了一个先进的平板扫描器，以避免众所周知的压电陶瓷管扫描器的缺陷，如弓效应，X-Y串扰等。低噪声的反馈控制提供了可靠性和高性能。将具有三个独立低压压电器件的平板扫描器安装在一个平台上，并结合低噪声的激光和电子系统，可在原子尺度上实现高分辨率测量。
通过一个智能选择的模拟和数字处理，每个信号得到增强以避免额外的噪声和执行快速的反馈。扫描器是由24位D/A转换器控制，为AFM提供高精度的扫描。内置锁相器进行精确的形貌、相位或MFM/EFM/KFM和PFM测量，加上低噪声的电子系统可获得高分辨率的图像和力谱。
一个彩色的视频摄像机提供给了AFM有用的视图，顶部视图可以用来针尖/样品定位，侧面视图使得针尖/样品趋近更加容易。
样品/针尖可见
易于使用
避免损坏样品或针尖
通过测光照明有更好的对比
一个高性能的光学选项也能用来在你的样品上定位微小的区域。
High resolution video on 10µm grid
SPM软件使用户通过预先配置的模式简化了设备安装。模式和通道的选择给了用户很大可能性来表征他们的样品。高品质和高分辨率是通过高达4096×4096像素的图像来提供的。实时控制是通过高速USB连接到SPM控制器提供的。不需要增加额外的模块就能实现所有需要的测量，通过简单地选择AFM模式，软件驱动和连接到相应的电子设备…不会产生错误或损害。通过一个简单的点击，你可以在所有的AFM模式之间切换。
除了高性能，Nano-Observer同时拥有多种先进的模式，可以扩大你的研究领域。除了接触/LFM、轻敲/相位成像之外，还有多种模式可用于表征机械粘弹性、样品表面附着力，以及分析电特性(CAFM,ResiScopeTM)、电场和磁场（MFM/EFM）和表面电位（标准KFM或HD-KFMTM）。8通道实时成像可提高分析能力。
除了标准的KFM模式外，Nano-Observer还能提供一种高清KFM模式，极大的提高了分辨率，并提高了表面电位的测量灵敏度。
ResiScopeTM II是一个独立的系统，能够测量电阻超过10个数量级。具有高的灵敏度和分辨率。它可以结合几个动态力模式像MFM / EFM或KFM，在同一扫描区域上提供多个样品特性。
柔性ResiScope原理是基于间歇接触。样品的摩擦力和针尖的恒定力提供定量的测量，不损坏精细样品的表面。这是一个独特的和创新的AFM模式，能够扩大应用领域。
温度控制模块是开发用来提供精确的温度控制和在温度变化时的成像。它是兼容所有的AFM模式的。加热样品台是用来研究聚合物、材料或生物样品当温度从常温到200°C变化时的相变。
| XY scan range | 100 μm (tolerance +/- 10%) |
| Z range | 15 μm (tolerance +/- 10%) |
| XY drive resolution | 24 bit control - 0.06 Angströms |
| Z drive resolution | 24 bit control - 0.006 Angströms |
| Ultra low noise HV | Typ : <0.01 mV RMS |
| 6 DAC Outputs | 6 D/A Converters – 24 bit (XYZ drive, bias, aux…) |
| 8 ADC Inputs | 8 A/D Converters – 16 bit |
| Data points | Up to 8192 |
| Integrated Lock-in | Up to 6 MHz (software limited) 2nd lock-in (6 MHz-optional) |
| Interface | USB (2.0 - 3.0 compatible) |
| Controller Power | AC 100 – 240 V - 47-63 Hz |
| Operating System | Windows 7 to 10 |
ResiScope II,
The World’s Greatest Performance for AFM Electrical Characterization
AFM Probes Shop,
Wide range of SPM probes compatible with most commercially avaible SPMs.
